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Microscope électronique à balayage par filament de tungstène / Microscope électronique Sem EM69 Std

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Microscope électronique à balayage par filament de tungstène / Microscope électronique Sem EM69 Std

Image Grand : Microscope électronique à balayage par filament de tungstène / Microscope électronique Sem EM69 Std

Détails sur le produit:

Lieu d'origine:	Chine
Nom de marque:	KYKY
Certification:	CE
Numéro de modèle:	EM6910

Conditions de paiement et expédition:

Quantité de commande min:	1
Conditions de paiement:	T/T, LC

Contact

Description de produit détaillée

Résolution:

SE : 3 nm à 30 KV, 8 nm à 3 kV ; ESB : 4 nm à 30 KV.

Grossissement:

1x-450000x

Stade du spécimen:

Étape des cinq axes

Canon électronique:

Filament Pré-aligné de tungstène

Mettre en évidence:

Un microscope électronique

une machine

Comme KYKY a plus de 60 ans d'expérience dans la fabrication de SEM, toute la série EM prend en charge les anciens systèmes remis à neuf et personnalisés comme SEM+, tels que le remodelage de la lithographie par faisceau d'électrons, la mise à niveau du LaB6, intégré à STM, AFM, étage de chauffage, étage cryo, étage de traction, manipulateur micro-nano, etc. Le système dispose également de plusieurs interfaces dans la chambre pour fixer la plupart des détecteurs d'analyse du marché.

Le microscope électronique à balayage de la série EM69 avec une excellente imagerie, une large gamme d'accessoires d'extension, des modules à faible vide en option et de riches fonctions d'automatisation, diverses possibilités de personnalisation.

Avantages :

◆ Modules à faible vide en option (LVSE, LVBSE)

◆ Fonctions d'automatisation riches

◆ Personnalisation des colonnes/chambres/systèmes électriques

◆ Chambre de grande taille en option

◆ Caméra de navigation grand champ

◆ Pièces jointes extensibles riches

Caractéristiques:

Article		SEM à filament de tungstène EM6910
Résolution		SE : 3 nm à 30 KV, 8 nm à 3 kV ; ESB : 4 nm à 30 KV.
Grossissement		1x-450000x
Pistolet à électrons		Filament de tungstène pré-aligné
Tension accélératrice		0,2kV-30kV
Système de vide		Pompe moléculaire Turbo + pompe mécanique
Ouverture de l'objectif		Système de vide extérieur réglable à ouverture en molybdène
Stade du spécimen		Étape cinq axes
Voyage	X(Automatique)	0 ~ 80mm
Gamme	Y (Automatique)	0 ~ 50mm
	Z(Manuel)	0 ~ 30mm
	R(Manuel)	360°
	T(Manuel)	-5° ~ 70°
Diamètre maximum de l'échantillon		175mm
Détecteur		Détecteur d'électrons secondaires
		Détecteur d'ESB à semi-conducteur※
		CCD infrarouge
		SED à faible vide※/BSED à faible vide ※
Modification		Mise à niveau de scène ; EBL ; STM ; AFM ; Étape de chauffage ; Stade cryogénique ; Étape de traction ; Manipulateur micro-nano ; SEM+Machine de revêtement ; SEM+Laser
Accessoires		LaB6, détecteur de rayons X (EDS), EBSD, CL, WDS, machine de revêtement
Fonction de faible vide※		Niveau de vide 10-270Pa SE:4nm@30kv,50Pa

Produit Tag:

Personne à contacter: Mr. Shawn Liu

Téléphone: 86-10-82548271

Télécopieur: 86-010-62564613

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Résolution: 0,8 nm à 15 kV, 1,5 nm à 1 kV

Tension d'accélération: 0,2kV-30kV

Spécimen maximum: 320mm

Microscope électronique à balayage de petite taille, appareil de pulvérisation ionique

Application: Spécimen préfabriqué pour le balayage électronique

Cible: Au, Ag, Cu, Al

Gaz moyen: air ou argon, avec entrée d'argon et microrégulateur de gonflage d'air

Taux de dépôt: 2-10 nm/min