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Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY

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Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY

Image Grand : Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY

Détails sur le produit:

Lieu d'origine:	Chine
Nom de marque:	KYKY
Certification:	CE
Numéro de modèle:	EM8200

Conditions de paiement et expédition:

Quantité de commande min:	1
Délai de livraison:	8 semaines
Conditions de paiement:	LC, T/T

Contact

Description de produit détaillée

agrandissement:

1x-3000000x

Résolution:

0,8 nm à 15 kV, 1,5 nm à 1 kV

Tension d'accélération:

0,2kV-30kV

Spécimen maximum:

320mm

Mettre en évidence:

microscope électronique semi

instruments de microscopie électronique à balayage

Microscope électronique à balayage à émission de champ ultra-haute résolution KYKY-EM8200 avec une nouvelle conception électro-optique. C'est

basé sur l'étape d'échantillonnage de décélération, une nouvelle génération d'objectif à faible aberration, un détecteur Inlens et d'autres

Technologies et intègre des fonctions étendues de traitement d'image, qui offrent de nouvelles solutions aux utilisateurs dans de nouveaux

l'énergie, les semi-conducteurs et d'autres industries.

Avantages :

Système électro-optique haute résolution
Système de détection de signal haute performance
Expérience utilisateur efficace et pratique

Caractéristiques:

	Configuration
Résolution	0,8 nm à 15 kV
	1,5 nm à 1 kV
Grossissement	1x-3000000x
Tension accélératrice	0,2kV-30kV
Pistolet à électrons	Pistolet à émission de champ Schottky
Scène automatique eucentrique à cinq axes	X : 0 ~ 150 mm
	Y : 0 ~ 150 mm
	Z:0~65mm
	R:360°
	T:-10°~90°
Spécimen maximum	320mm
Hauteur maximale de l'échantillon	90mm

Produit Tag:

Personne à contacter: Mr. Shawn Liu

Téléphone: 86-10-82548271

Télécopieur: 86-010-62564613

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Résolutions: 0,9 nm à 30 KV (SE) 3 nm à 1 kV (SE)

Grossissement: 1X ~ 3000000X

Stade du spécimen: Scène motorisée eucentrique à cinq axes

Diamètre maximum de l'échantillon: 320mm

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Résolution: SE : 3 nm à 30 KV, 8 nm à 3 kV ; ESB : 4 nm à 30 KV.

Grossissement: 1x-450000x

Stade du spécimen: Étape des cinq axes

Canon électronique: Filament Pré-aligné de tungstène

Microscope électronique de balayage par émission de champ KYKY / instruments de microscopie électronique de balayage

Résolution: SE 1,5 nm à 15 kV ESB 3 nm à 30 kV

Grossissement: 1x-600000x

Tension d'accélération: 0,2kV-30kV

Diamètre maximum de l'échantillon: 175mm

Microscope électronique à balayage de petite taille, appareil de pulvérisation ionique

Application: Spécimen préfabriqué pour le balayage électronique

Cible: Au, Ag, Cu, Al

Gaz moyen: air ou argon, avec entrée d'argon et microrégulateur de gonflage d'air

Taux de dépôt: 2-10 nm/min