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Microscopio electrónico de exploración de emisión de campo KYKY

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Certificación

PORCELANA KYKY TECHNOLOGY CO., LTD. certificaciones

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Microscopio electrónico de exploración de emisión de campo KYKY

Ampliación de imagen : Microscopio electrónico de exploración de emisión de campo KYKY

Datos del producto:

Lugar de origen:	Porcelana
Nombre de la marca:	KYKY
Certificación:	CE
Número de modelo:	EM8200

Pago y Envío Términos:

Cantidad de orden mínima:	1
Tiempo de entrega:	8 semanas
Condiciones de pago:	LC, T/T

Contacto

Descripción detallada del producto

agnificación:

1x-3000000x

Resolución:

0,8 nm a 15 kV, 1,5 nm a 1 kV

Váltidad de aceleración:

0,2 kV-30 kV

Muestra máxima:

320 mm

Resaltar:

Microscopio electrónico de exploración de emisiones de campo

microscopio electrónico de escaneo para material preciso

Microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de resolución ultraalta KYKY-EM8200 con nuevo diseño electroóptico. Es

Basado en la etapa de muestra de desaceleración, una nueva generación de lentes objetivo de baja aberración, detector Inlens y otros

Tecnologías e integra amplias funciones de procesamiento de imágenes, lo que proporciona nuevas soluciones para los usuarios en nuevos

energía, semiconductores y otras industrias.

Ventajas:

Sistema electroóptico de alta resolución.
Sistema de detección de señales de alto rendimiento
Experiencia de usuario eficiente y conveniente

Presupuesto:

	Configuración
Resolución	0,8 nm a 15 kV
	1,5 nm a 1 kV
Aumento	1x-3000000x
Voltaje de aceleración	0,2 kV-30 kV
Pistola de electrones	Pistola de emisión de campo Schottky
Etapa automática eucéntrica de cinco ejes	X: 0~150 mm
	Longitud: 0~150 mm
	Z:0~65mm
	R:360°
	T: -10°~90°
Muestra máxima	320 mm
Altura máxima de la muestra	90mm

etiqueta:

Persona de Contacto: Miss. Katy Zeng

Teléfono: 86-10-82541504

Fax: 86-010-82541504

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Resoluciones: 0,9 nm a 30 kV (SE) 3 nm a 1 kV (SE)

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Etapa de muestra: Etapa de cinco ejes

Arma de electrón: Filamento Pre-alineado del tungsteno

Microscopio electrónico de exploración por emisión de campo KYKY / Instrumentación de microscopía electrónica de exploración

Resolución: SE 1,5 nm@15 kV EEB 3 nm@30 kV

Aumento: 1x-600000x

Váltidad de aceleración: 0,2 kV-30 kV

Diámetro máximo de la muestra: 175mm

Pequeña blanco del dispositivo de farfulla del ion del microscopio electrónico de exploración para Au Ag Cu Al

Solicitud: Muestra prefabricada para escaneo de electrones.

Objetivo: Au, Ag, Cu, Al

gas medio: Aire o argón, con entrada de argón y microajustador de inflado de aire.

Tasa de depósito: 2-10 nm/min