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Microscopio electrónico de escaneo con filamento de tungsteno / Microscopio electrónico Sem EM69 Std

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Certificación

China KYKY TECHNOLOGY CO., LTD. certificaciones

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Microscopio electrónico de escaneo con filamento de tungsteno / Microscopio electrónico Sem EM69 Std

Ampliación de imagen : Microscopio electrónico de escaneo con filamento de tungsteno / Microscopio electrónico Sem EM69 Std

Datos del producto:

Lugar de origen:	Porcelana
Nombre de la marca:	KYKY
Certificación:	CE
Número de modelo:	EM6910

Pago y Envío Términos:

Cantidad de orden mínima:	1
Condiciones de pago:	T/T, LC/C

Contacto

Descripción detallada del producto

Resolución:

SE: 3nm@30KV, 8nm@3kV; EEB: 4nm@30KV

Aumento:

1x-450000x

Etapa de muestra:

Etapa de cinco ejes

Arma de electrón:

Filamento Pre-alineado del tungsteno

Resaltar:

microscopio electrónico sem

máquina sem

Como KYKY tiene más de 60 años de experiencia en la fabricación de SEM, toda la serie EM admite sistemas antiguos restaurados y personalizados como SEM+, como remodelación de litografía por haz de electrones, actualización de LaB6, integración con STM, AFM, etapa de calentamiento, etapa criogénica, etapa de tracción, manipulador micronano, etc. El sistema también tiene múltiples interfaces en la cámara para conectar la mayoría de los detectores de análisis en el mercado.

El microscopio electrónico de barrido de la serie EM69 con excelentes imágenes, amplia gama de accesorios de expansión, módulos de bajo vacío opcionales y ricas funciones de automatización, varias posibilidades de personalización.

Ventajas:

◆ Módulos de bajo vacío opcionales (LVSE, LVBSE)

◆ Ricas funciones de automatización

◆ Personalización de columna/cámara/sistema eléctrico

◆ Cámara de gran tamaño opcional

◆ Cámara de navegación de campo amplio

◆ Archivos adjuntos enriquecidos en expansión

Presupuesto:

Artículo		EM6910 Filamento de tungsteno SEM
Resolución		SE: 3nm@30KV, 8nm@3kV; EEB: 4nm@30KV
Aumento		1x-450000x
Pistola de electrones		Filamento de tungsteno prealineado
Voltaje de aceleración		0,2 kV-30 kV
Sistema de vacío		Bomba Turbo Molecular + bomba mecánica
Apertura objetiva		Sistema de vacío exterior ajustable con apertura de molibdeno.
Etapa de muestra		Etapa de cinco ejes
Viajar	X(automático)	0 ~ 80 mm
Rango	Sí (automático)	0 ~ 50 mm
	Z(manual)	0 ~ 30 mm
	R(manual)	360°
	T(manual)	-5° ~ 70°
Diámetro máximo de la muestra		175mm
Detector		Detector de electrones secundario
		Detector de EEB semiconductor※
		CCD infrarrojo
		SED de bajo vacío※/ BSED de bajo vacío ※
Modificación		Actualización de etapa; EBL; STM; AFM; Etapa De Calentamiento; Etapa criogénica; etapa de tracción; Micronanomanipulador; SEM+Máquina de recubrimiento;SEM+Láser
Accesorios		LaB6, detector de rayos X (EDS), EBSD, CL, WDS, máquina de recubrimiento
Función de bajo vacío※		Nivel de vacío 10-270Pa SE:4nm@30kv,50Pa

etiqueta:

Persona de Contacto: Mr. Shawn Liu

Teléfono: 86-10-82548271

Fax: 86-010-62564613

Otros productos

Microscopio electrónico de escaneo de alta resolución / Instrumentación Sem Corriente de haz estable

Resoluciones: 0,9 nm a 30 kV (SE) 3 nm a 1 kV (SE)

Aumento: 1X ~ 3000000X

Etapa de muestra: Etapa motorizada eucéntrica de cinco ejes

Diámetro máximo de la muestra: 320 mm

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Resolución: SE 1,5 nm@15 kV EEB 3 nm@30 kV

Aumento: 1x-600000x

Váltidad de aceleración: 0,2 kV-30 kV

Diámetro máximo de la muestra: 175mm

Microscopio electrónico de exploración de emisión de campo KYKY

agnificación: 1x-3000000x

Resolución: 0,8 nm a 15 kV, 1,5 nm a 1 kV

Váltidad de aceleración: 0,2 kV-30 kV

Muestra máxima: 320 mm

Pequeña blanco del dispositivo de farfulla del ion del microscopio electrónico de exploración para Au Ag Cu Al

Solicitud: Muestra prefabricada para escaneo de electrones.

Objetivo: Au, Ag, Cu, Al

gas medio: Aire o argón, con entrada de argón y microajustador de inflado de aire.

Tasa de depósito: 2-10 nm/min