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Microscopio electrónico de exploración por emisión de campo KYKY / Instrumentación de microscopía electrónica de exploración

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Certificación

China KYKY TECHNOLOGY CO., LTD. certificaciones

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Microscopio electrónico de exploración por emisión de campo KYKY / Instrumentación de microscopía electrónica de exploración

Ampliación de imagen : Microscopio electrónico de exploración por emisión de campo KYKY / Instrumentación de microscopía electrónica de exploración

Datos del producto:

Lugar de origen:	Porcelana
Nombre de la marca:	KYKY
Certificación:	CE
Número de modelo:	EM8010

Contacto

Descripción detallada del producto

Resolución:

SE 1,5 nm@15 kV EEB 3 nm@30 kV

Aumento:

1x-600000x

Váltidad de aceleración:

0,2 kV-30 kV

Diámetro máximo de la muestra:

175mm

Resaltar:

instrumentos de microscopía electrónica de exploración

máquina de sem

El microscopio electrónico de barrido de emisión de campo de la serie EM80 se posiciona como un microscopio electrónico de barrido de emisión de campo térmico Schottky económico con gran extensibilidad y rendimiento de alto costo, que se usa ampliamente en diversos campos como ciencia de materiales, biología, medicina, química y ciencia ambiental.

Ventajas:

◆ Cañón de emisión de campo Schottky

◆ Sistema de lentes multietapa de alto rendimiento

◆ Estabilidad de las luces altas

◆ Cámara de muestras extragrande personalizable

◆ Operación sencilla

◆ Gran extensibilidad y rendimiento de alto costo

Presupuesto:

Artículo		EM8010
Resolución		SE 1,5 nm@15 kV EEB 3 nm@30 kV

Aumento		1x-600000x
Pistola de electrones		Pistola de emisión de campo Schottky
Voltaje de aceleración		0,2 kV-30 kV
Sistema de vacío		2 bombas de iones, 1 bomba turbomolecular de levitación magnética, 1 bomba seca
Apertura objetiva		Sistema de vacío exterior ajustable con apertura de molibdeno.
Etapa de muestra		Etapa de cinco ejes
Viajar	X(automático)	0 ~ 80 mm
Rango	Sí (automático)	0 ~ 50 mm
	Z(manual)	0 ~ 30 mm
	R(manual)	360°
	T(manual)	-5° ~ 70°
Diámetro máximo de la muestra		175mm
Detector		Detector de electrones secundarios de alto vacío Detector CCD infrarrojo Detector de retrodispersión de cuatro cuadrantes ※ Navegación óptica ※

Modificación		Actualización de etapa;EBL;STM;AFM;Etapa de calentamiento;Etapa criogénica;Etapa de tracción;Micronanomanipulador;SEM+Máquina de recubrimiento;SEM+Láser
Accesorios		EDS/EBSD/STEM/CL/Etapa de calentamiento/Etapa de enfriamiento/Etapa de tracción, etc.

etiqueta:

Persona de Contacto: Mr. Shawn Liu

Teléfono: 86-10-82548271

Fax: 86-010-62564613

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Resoluciones: 0,9 nm a 30 kV (SE) 3 nm a 1 kV (SE)

Aumento: 1X ~ 3000000X

Etapa de muestra: Etapa motorizada eucéntrica de cinco ejes

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Etapa de muestra: Etapa de cinco ejes

Arma de electrón: Filamento Pre-alineado del tungsteno

Microscopio electrónico de exploración de emisión de campo KYKY

agnificación: 1x-3000000x

Resolución: 0,8 nm a 15 kV, 1,5 nm a 1 kV

Váltidad de aceleración: 0,2 kV-30 kV

Muestra máxima: 320 mm

Pequeña blanco del dispositivo de farfulla del ion del microscopio electrónico de exploración para Au Ag Cu Al

Solicitud: Muestra prefabricada para escaneo de electrones.

Objetivo: Au, Ag, Cu, Al

gas medio: Aire o argón, con entrada de argón y microajustador de inflado de aire.

Tasa de depósito: 2-10 nm/min