Mikroskop elektroniczny skanujący / mikroskop elektroniczny skanujący
Mikroskop elektroniczny skanujący / mikroskop elektroniczny skanujący
Podstawowe właściwości
Kraj Pochodzenia
Chiny
Nazwa Marki
KYKY
Certyfikat
CE
Modelu Produktu
EM8010
Nieruchomości handlowe
Podsumowanie produktu
Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową serii EM80 jest pozycjonowany jako ekonomiczny skaningowy mikroskop elektronowy z emisją pola termicznego Schottky'ego o bogatej rozszerzalności i wysokiej wydajności kosztowej, który jest szeroko stosowany w różnych dziedzinach, takich jak materia...
Szczegóły produktu
Podkreślić:
urządzenia do skanowania mikroskopii elektronicznej
,maszyna sem
Resolution:
SE 1,5 nm przy 15 kV BSE 3 nm przy 30 kV
Magnification:
1x-600000x
Accelerating Voltage:
0,2 kV-30 kV
Max Specimen Diameter:
175mm
Opis produktu
Skaningowy mikroskop elektronowy z emisją polową serii EM80 jest pozycjonowany jako ekonomiczny skaningowy mikroskop elektronowy z emisją pola termicznego Schottky'ego o bogatej rozszerzalności i wysokiej wydajności kosztowej, który jest szeroko stosowany w różnych dziedzinach, takich jak materiałoznawstwo, biologia, medycyna, chemia i nauki o środowisku.
Zalety:
◆ Działo emisyjne pola Schottky’ego
◆ Wielostopniowy system soczewek o wysokiej wydajności
◆ Stabilność świateł drogowych
◆ Konfigurowalna, bardzo duża komora na próbki
◆ Prosta obsługa
◆ Bogate możliwości rozbudowy i wysoka wydajność kosztowa
Dane techniczne:
| Przedmiot | EM8010 | |
| Rezolucja |
SE 1,5 nm przy 15 kV BSE 3 nm przy 30 kV
|
|
| Powiększenie |
1x-600000x
|
|
| Działo Elektronowe | Działo emisyjne polowe Schottky’ego | |
| Napięcie przyspieszające |
0,2 kV-30 kV
|
|
|
System próżniowy
|
2 pompy jonowe, 1 turbomolekularna pompa lewitacyjna magnetyczna, 1 pompa sucha
|
|
| Otwór obiektywny | Zewnętrzny system próżniowy z możliwością regulacji przysłony molibdenowej | |
| Etap próbki | Etap pięciu osi | |
| Podróż | X(automatyczny) | 0 ~ 80 mm |
| Zakres | Y (automatyczny) | 0 ~ 50 mm |
| Z (ręczny) | 0 ~ 30 mm | |
| R (ręczny) | 360° | |
| T (ręczny) | -5° ~ 70° | |
| Maksymalna średnica próbki | 175mm | |
| Detektor |
|
|
| Modyfikacja | Modernizacja stopnia;EBL;STM;AFM;Stopień ogrzewania;Stopień kriogeniczny;Stopień rozciągania;Manipulator mikro-nano;SEM+maszyna do powlekania;SEM+Laser | |
| Akcesoria |
EDS/EBSD/STEM/CL/etap nagrzewania/etap chłodzenia/etap rozciągania itp.
|
|
