Microscópio Eletrônico de Emissão de Campo de Análise / Microscópio Eletrônico de Análise KYKY Instrumentação
Microscópio Eletrônico de Emissão de Campo de Análise / Microscópio Eletrônico de Análise KYKY Instrumentação
Propriedades Básicas
País De Origem
China
Marca
KYKY
Certificado
CE
Modelo De Produto
EM8010
Propriedades comerciais
Resumo do Produto
O microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo da série EM80 é posicionado como um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico Schottky econômico com rica extensibilidade e desempenho de alto custo, que é amplamente utilizado em vários campos, como ciência de materiais...
Detalhes do produto
Destacar:
instrumentação de microscopia eletrônica de varredura
,máquina sem
Resolution:
SE 1,5nm@15kV BSE 3nm@30kV
Magnification:
1x-600000x
Accelerating Voltage:
0,2kV-30kV
Max Specimen Diameter:
175 mm
Descrição do produto
O microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo da série EM80 é posicionado como um microscópio eletrônico de varredura de emissão de campo térmico Schottky econômico com rica extensibilidade e desempenho de alto custo, que é amplamente utilizado em vários campos, como ciência de materiais, biologia, medicina, química e ciência ambiental.
Vantagens:
◆ Arma de emissão de campo Schottky
◆ Sistema de lentes multiestágio de alto desempenho
◆ Alta estabilidade do feixe
◆ Câmara de amostras extragrande personalizável
◆ Operação simples
◆ Ampla extensibilidade e desempenho de alto custo
Especificações:
| Item | EM8010 | |
| Resolução |
SE 1,5nm@15kV BSE 3nm@30kV
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| Ampliação |
1x-600000x
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| Arma de elétrons | Pistola de emissão de campo Schottky | |
| Tensão acelerada |
0,2kV-30kV
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Sistema de vácuo
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2 bombas de íons, 1 bomba turbo molecular de levitação magnética, 1 bomba seca
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| Abertura objetiva | Abertura de molibdênio ajustável sistema de vácuo externo | |
| Estágio de amostra | Estágio de cinco eixos | |
| Viagem | X(automático) | 0 ~ 80 mm |
| Faixa | Y (automático) | 0 ~ 50 mm |
| Z(Manual) | 0 ~ 30 mm | |
| R(Manual) | 360° | |
| T(Manual) | -5° ~ 70° | |
| Diâmetro máximo da amostra | 175 mm | |
| Detector |
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| Modificação | Atualização de estágio;EBL;STM;AFM;Estágio de aquecimento;Estágio criogênico;Estágio de tração;Manipulador micro-nano;SEM+Máquina de revestimento;SEM+Laser | |
| Acessórios |
EDS/EBSD/STEM/CL/estágio de aquecimento/estágio de resfriamento/estágio de tração, etc.
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